Аннотация

Принято считать, что дифракционные картины от электромагнитных волн (ЭМВ) и электронов подобны. Я выполнил серию экспериментов, направленных на то, чтобы показать, что периодичность полос дифракционной картины электронов определяется периодичностью расположения рассеивающих центров дифракционной решётки в комбинации с предполагаемым характером пространственной структуры электрона как системы периодических пространственно-концентрических оболочек упругости. Я начал с экспериментов дифракции ЭМВ и электронов на резкой границе непрозрачной полуплоскости. Эта простая рассеивающая структура позволила мне обнаружить различие между переизлучательным механизмом волновой интерференции ЭМВ и рикошетным рассеянием электронов на границе полуплоскости. Затем я провёл опыты рассеяния на более сложных объектах, проходя шаг за шагом от единичной границы до пары границ (одна щель) и затем до четырёх границ (две щели). Таким образом я добился успеха в интерпретации двущелевой дифракции (4 резких границы) в терминах рассеяния на одиночной границе.

В пользу упруго-корпускулярного механизма рассеяния электронов говорят следующие выполненные мной эксперименты. Смещение одной полуплоскости щели вдоль направления электронного потока на полдлины волны практически не влияет на картину рассеяния электронов, в то время как интерференционная картина ЭМВ в аналогичном случае изменяется от "позитивной" на негативную. Напротив, нагревание щелей размывает и уширяет картину рассеяния электронов, но практически не влияет на аналогичное воздействие на ЭМВ.

Я достиг успеха так же в наблюдениях траекторий рассеянных электронов. Обустроив края щелей полупроводниковыми датчиками, я зарегистрировал акт прохождения электрона через щель, измеряя одновременно более слабый сигнал на другой щели. Техника такого наблюдения факта пролёта электрона через щель показала, что "интерференционная" картина при этом не разрушается. Закрывая одну щель прозрачной для ЭМВ диэлектрической заглушкой, я обнаружил, что дифракционная картина под этой щелью исчезает, в то время как дифракционная картина под открытой щелью остаётся такой же, какой была при двух открытых щелях. Этот опыт указывает на то, что электрон интерферирует со своей электромагнитной частью, проходящей через закрытую прозрачным диэлектриком щель.